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如何根據具體選用選擇X熒光設備進行RoHS分析

發(fā)布日期：2008-08-24 瀏覽次數(shù)：3435

來源：中國電子商情

作者：英國牛津儀器 John I.H. Patterson博士

主要內容：X熒光技術（XRF）一直以來都是元素分析領域的一種常用技術。因此，當有關限制電子電器產品中的有害物質的法令頒布后（例如歐盟和中國的RoHS指令），XRF自然也就成為了業(yè)界所認可的一種值得信賴的檢測手段。在絕大多數(shù)的相類似指令中，都限定材料中的鉛、汞、六價鉻，多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴聯(lián)苯醚（PBDE）的含量必須分別低于0.1%，鎘的含量必須低于0.01%。運用XRF技術能夠在直接分析物質中的鉛、汞、鎘元素含量，并達到相關法令所要求的檢測精度；XRF技術可檢測鉻的總含量，但無法分辨其在不同原子價狀態(tài)下的各自含量；同樣，運用XRF技術可以檢測溴的總含量，但是無法判斷在不同種類的溴的化合物的分別含量。綜上所述，當被測樣品為均質材料且樣品材料厚度滿足XRF測試要求的條件下，XRF的測試結果能夠對廠家控制和檢測物質中的有害元素提供非常有價值的信息。目前標準組織ASTM下屬的ASTM F-40委員會一直在致力于制定相關的標準測試方法來規(guī)范相關材料中有害物質的分析。下文中將提到的關于測試塑膠樣品中的有害物質的測試方法已經非常的接近于即將被批準和公布的測試方法了……

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CEM-April1.pdf。

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